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多维集成芯片测试工程师-Multi-dimensional Test Engineer(J20565)

长鑫存储技术有限公司

  • 安徽省·合肥市
  • 研发技术类

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岗位职责

  1. 测试环境搭建与程序开发:制定测试环境搭建方案,维护测试平台的稳定运行,主导多维集成模组及芯片的工程测试程序开发与持续优化,保障测试程序的高效性与稳定性;
  2. 测试硬件评审与优化:完成测试相关硬件的设计评审工作,包括负载板、探针卡、插座与更换套件等,识别硬件设计缺陷,提出优化建议以提升测试可行性与良率;
  3. 产品导入协同与测试方案演进:主导研发及量产阶段新产品的测试导入工作,协同开展产品调试与验证,建立并完善测试方案演进路径,推动前沿测试能力的预研及外部联合开发;
  4. 测试数据驱动与良率提升:制定测试数据分析方案,监控测试覆盖率与测试时长等指标,迭代优化测试方法,消除冗余,提升测试效率与良率表现,输出标准化测试规范与技术报告;
  5. 失效分析与技术闭环:建立与失效分析团队的协作机制,联动完成芯片及模组异常定位,输出根因分析结论,推动测试环节相关联的技术闭环与持续改进。

职位要求

  1. 教育背景与专业知识:本科及以上学历,微电子、电子工程、自动化、计算机等相关专业;
  2. 专业技能与资格:熟悉多种电子测量仪器的使用方法,包括示波器、逻辑分析仪、网络分析仪等,具备自动化测试相关软件或硬件开发能力,能搭建高效的测试软硬件系统与可扩展的测试平台架构;
  3. 行业与专业经验:具备3年以上测试领域工作经验,熟悉集成电路芯片、模组或光学模组的测试原理及方法,有自动化测试设备平台程序开发经验者优先;
  4. 项目/任务成果:主导过至少2项测试序列设计或测试程序开发项目,具备完成多站点并行或复杂测试流程开发的经验,有测试良率分析与测试时间优化成功纪录;
  5. 其他要求:具有独立分析与解决问题的能力,能主导跨部门协作,适应多任务同步推进的研发环境,并持续推动测试方案演进与优化。

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