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ATE测试开发与分析工程师-ATE Test Develop Engineer(J19930)

长鑫存储技术有限公司

  • 安徽省·合肥市、上海市、陕西省·西安市
  • 研发技术类

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岗位职责

  1. 项目测试方案评估: 负责新一代memory产品可测性评估 & 测试flow 搭建
  2. 测试程序开发与功能验证: 负责新产品&新工艺产品测试程序开发,完成电性功能、高速数字信号性能验证,评估测试覆盖率并驱动改善;
  3. DFT方案设计评估与优化:与Designer协同对新产品DFT方案进行评估与优化,完成产品DFT功能验证及设计Issue分析闭环;
  4. 冗余修补算法: 存储芯片冗余(redundancy)修补分析程序开发,修补算法研发, 下一代存储芯片冗余设计方案评估,以及fuse 功能验证
  5. 测试效率优化:持续优化ATE测试程序效率,缩短测试时间,降低成本
  6. 测试硬件设计与验证:评估并验证芯片测试硬件最优方案,确保硬件设计满足测试需求
  7. 测试软件工程环境建设:ATE CP/FT软件工程环境建设,测试流程控制开发,测试过程及结果资料处理

职位要求

  1. 教育背景与专业知识:微电子/集成电路/电子信息/通信/自动化/计算机及相关专业,本科及以上学历,具备数字逻辑电路与半导体测试基础理论;
  2. 专业技能与资格: 至少熟悉一种常用编程语言(如C/C++、Python等),具备良好的程式框架设计能力,熟悉芯片测试原理及DFT方案设计验证流程;
  3. 行业与专业经验: 具有1年以上半导体领域工作经验,有Advantest/Teradyne ATE设备使用经验者优先,了解DRAM/NAND/NOR存储器工作原理,有信号仿真与simulation经验者优先;具备电路,模数电,信号处理,信号完整性等基础硬件知识,有probe card, DIB 设计经验优先
  4. 项目/任务成果: 能独立完成ATE测试程序开发与调试,具备工程实验设计及数据分析能力,能从测试项原理出发驱动测试覆盖率优化与效率提升。

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