岗位职责
- 良率监控与数据分析： · 负责日常电性测试良率(CP数据与map）的监控、追踪与汇报； · 运用统计过程控制（SPC）、数据挖掘等工具，对海量测试数据进行深度分析，识别异常的良率损失模式； · 建立和维护良率预测模型，为生产决策提供数据支持；
- 良率问题分析与根本原因查找： · 主导参与良率异常事件的调查，快速响应并定位问题根源，持续跟踪相关解决方案直至良率恢复提升； · 分析跟踪相关工艺实验计划（DOE），验证良率问题与特定工艺步骤、设备或设计版图之间的因果关系； · 与失效分析实验室合作，利用FIB、SEM、TEM、EDX等先进设备进行物理失效分析，将电性失效定位到具体的物理缺陷；
- 跨部门协作与问题解决： · 与工艺集成、工艺各部门，器件、产品测试与design部门紧密合作，寻找良率提升机会，将根本原因分析的结果转化为可执行的工艺控制规范或设计规则，推动良率提升； · 主导良率会议，汇报分析良率数据，推进并确保相关的良率改善措施落地执行；
- 持续改进： · 识别良率提升的长期机会，主导或参与持续改进项目，优化工艺流程和产品设计； · 开发和完善良率分析的方法、流程和自动化工具，提升团队的分析效率。
职位要求
- 本科及以上学历，微电子、半导体材料等相关专业；
- 3年以上半导体相关工作经验：工艺整合， modue PE， defect reduction, 良率分析与提升经验皆可；
- 较强的统计学，逻辑思维能力。良好的跨部门合作、沟通协调能力；
- 加分技术技能： 了解DRAM工作原理及DRAM基本测试原理；具备12寸品圆厂工作经验；了解基本的失效分析技术和原理。
