岗位职责
- 良率监控与追踪：负责日常电性测试良率(CP数据与map）的监控、追踪与汇报；
- 数据深度分析与良率预测：运用统计过程控制（SPC）、数据挖掘等工具，对测试数据进行深度分析，识别异常的良率损失模式，并建立和维护良率预测模型；
- 良率异常调查与失效分析：主导并参与良率异常事件的调查，制定相关工艺实验计划（DOE），验证良率问题根因，并与失效分析实验室合作进行物理失效分析；
- 跨部门协作与良率提升：与工艺集成、工艺各部门、器件、产品测试与design部门紧密合作，寻找良率提升机会，推动良率提升；
- 良率会议主导：主导良率会议，汇报分析良率数据，推进并确保相关的良率改善措施落地执行；
- 分析工具开发完善：开发和完善良率分析的方法、流程和自动化工具，提升团队的分析效率。
职位要求
- 教育背景与专业知识：硕士及以上学历，微电子、半导体材料等相关专业；
- 行业与专业经验：5年以上半导体相关工作经验：工艺整合、module PE、defect reduction、良率分析与提升经验皆可；
- 专业技能与资格：较强的统计学、逻辑思维能力；
- 其他要求：了解DRAM工作原理及DRAM基本测试原理优先；生产管理及智能制造相关涉猎，并具备12寸晶圆厂工作积累。
