岗位职责
- 良率监控与数据分析：主导日常电性测试良率（CP数据与Map）的监控、追踪与汇报，运用SPC、数据挖掘等工具深度分析海量测试数据，识别异常良率损失模式，建立并维护良率预测模型，为生产决策提供数据支持；
- 良率问题分析与根本原因定位：主导良率异常事件调查，快速响应并定位问题根源，持续跟踪解决方案直至良率恢复；分析跟踪工艺实验计划（DOE），验证良率问题与特定工艺步骤、设备或设计版图间的因果关系；与失效分析实验室协作，通过FIB、SEM、TEM、EDX等设备将电性失效定位至具体物理缺陷；
- 跨部门协作与问题解决：与工艺集成、工艺各部门、器件、产品测试及设计部门紧密合作，将根本原因分析结果转化为可执行的工艺控制规范或设计规则；主导良率会议，汇报数据并推动改善措施落地执行；
- 持续改进与方法开发：识别长期良率提升机会，主导或参与持续改进项目，优化工艺流程与产品设计；开发和完善良率分析方法、流程及自动化工具，提升团队分析效率。
职位要求
- 教育背景与专业知识：硕士及以上学历，微电子、半导体材料等相关专业；
- 行业与专业经验：3年以上半导体相关工作经验，涵盖工艺整合、Module PE、缺陷减少、良率分析与提升等；
- 专业技能与资格：具有较强的统计学和逻辑思维能力；优先考虑具备DRAM工作原理及基本测试原理了解、12寸晶圆厂工作经验、失效分析技术原理了解者；
- 其他要求：具有良好的跨部门合作与沟通协调能力。
