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DRAM系统测试与失效分析工程师-DRAM System Test and Failure Analysis Engineer(J16895)

长鑫存储技术有限公司

  • 安徽省·合肥市
  • 研发技术类

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岗位职责

  1. 高速信号与协议时序分析:主导DRAM高速信号和协议时序的测量与分析,输出系统性测试报告;
  2. 系统失效分析与定位:负责DRAM新产品及相关新平台各阶段发生的系统失效量测分析,定位根因并给出结论;
  3. UIP测试执行:系统相关新平台的UIP测试执行与熟练掌握,确保测试覆盖度与准确性;
  4. 新测量设备导入与使用:主导新测量设备的导入与学习使用,提升测试能力边界;
  5. 测量方法研究与改进:研究和改进设备测量方法,丰富测量手段,提高测量准确度与效率。

职位要求

  1. 教育背景与专业知识:本科及以上学历,电子、计算机、通信等相关专业,具备扎实的电路基础知识;
  2. 专业技能与资格:能熟练使用示波器与逻辑分析仪等测试测量设备,基本了解信号完整性理论及计算机硬件架构与工作原理,熟练使用电烙铁和热风枪,具备一定的焊接能力;
  3. 行业与专业经验:具有3年以上高速接口信号测量相关经验,具备一定DRAM知识,能熟读DRAM datasheet,有DRAM相关行业测试工作经历者优先。

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